选用高稳定的、光谱响应曲线与CIE V（λ）曲线严格匹配的优质光电探测部件，保障了测量高精度与稳定性。 场景图像分辨率高，不存在图像失真问题。 专业、友好的软件界面设计，眩光测量分析更简单。