读懂AFM原理、测试及应用 - 知乎 - 知乎专栏
2022年1月24日 · 读懂afm原理、测试及应用 硕博测试圈 原子力显微镜为扫描探针显微镜家族的一员，具有纳米级的分辨能力，其操作容易简便，是目前研究纳米科技和材料分析的最重要的工具之一。
一文看懂原子力显微镜(AFM) - 知乎 - 知乎专栏
AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继 扫描隧道显微镜 （Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。
原子力显微镜 - 百度百科
原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。
一线大佬详解！关于AFM，读这篇文章就够了 - 知乎
2023年11月2日 · 二十世纪八十年代，纳米技术诞生并快速发展， 扫描隧道显微镜 （Scanning Tunneling Microscope，STM）和 原子力显微镜 （Atomic Force Microscope，AFM）为此奠定重要基础，实现了材料表面的分子/原子级成像，并开启了纳米尺度的测量，但STM基于隧穿电流的工作原理，仅可 ...
原子力显微镜 - 维基百科，自由的百科全书
原子力显微镜（英語： Atomic Force Microscope ，简称AFM），也称扫描力显微镜（英語： Scanning Force Microscope ，SFM）是一种纳米级 高分辨的扫描探针显微镜，优于光学衍射极限1000倍。
原子力显微镜（AFM）的工作原理、样品要求及应用讲解
2023年10月8日 · 原子力显微镜（ AFM，Atomic Force Microscopy）是一种纳米级表面形貌和物理性质测量技术，能够直接观测纳米级别的表面形态、粗糙度、力学性质等。 AFM 基于量子力学原理，通过检测原子间的作用力来实现对样品表面的高分辨率成像。 一、AFM 的工作原理
原子力显微镜(AFM)原理 | Park Systems
电化学原子力显微镜（EC-AFM）是一种可选模式，用于监测样品表面由氧化还原（redox）反应引起的变化。 在EC-AFM中，电位计与AFM结合，用于控制工作电极（样品）、参比电极和浸入液体电解质中的计数电极之间的电压电位，并测量其之间的电流。
原子力显微镜介绍-AFM简介 - CSDN博客
2024年10月26日 · afm工作原理. afm的工作原理基于微力探针与样品表面之间的相互作用力。微力探针通常是一个非常细小的尖端，其直径可以达到纳米尺度。在扫描过程中，微力探针通过机械臂与样品表面接触，并受到样品表面的力作用。
AFM原理、操作以及应用 - 知乎 - 知乎专栏
2023年7月18日 · 原理. AFM = Atomic Force Microscope（ 原子力显微镜 ）， 是由G.Binning在STM 基础上发展起来的，其原理是将一个对极微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触。由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过 …
原子力显微镜（AFM）各种成像模式的原理-本原纳米仪器
原子力显微镜（Atomic Force Microscopes，AFM）的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微 ...